Teknologi & solusi

Teknologi & solusi

01 Batasan Kinerja CVD SiC, TaC dan Solid SiC dalam Proses Epitaksi dan Etsa
05

01 Batasan Kinerja CVD SiC, TaC dan Solid SiC dalam Proses Epitaksi dan Etsa

Memilih SiC CVD, lapisan TaC, atau SiC Padat yang tepat secara langsung menentukan tingkat partikel dan masa pakai komponen pada jalur epitaksi/etsa. Artikel ini memberikan batasan pemilihan yang jelas berdasarkan suhu, atmosfer, dan proses, disesuaikan dengan solusi penggantian peralatan utama dan metrik utama, untuk membantu Anda mengambil keputusan dengan cepat dan mengurangi risiko.
Lihat Lebih Banyak
Teknologi Laser Berpanduan Air: Pemesinan Lubang Mikro Presisi untuk Substrat SiC
06

Teknologi Laser Berpanduan Air: Pemesinan Lubang Mikro Presisi untuk Substrat SiC

Temukan bagaimana teknologi laser berpemandu air dari VeTek menghasilkan lubang tembus Φ0,15 mm yang seragam pada substrat SiC 2 mm tanpa lancip, HAZ minimal, dan hasil tinggi untuk aplikasi semikonduktor.
Lihat Lebih Banyak
Solusi Pin Pengangkat Berongga VETEK-AMAT: Substrat Grafit Kemurnian Tinggi dengan Lapisan SiC CVD
07

Solusi Pin Pengangkat Berongga VETEK-AMAT: Substrat Grafit Kemurnian Tinggi dengan Lapisan SiC CVD

Masalah teknis yang paling menantang untuk pin pengangkat berongga peralatan semikonduktor bukanlah lapisan permukaan luar, tetapi pencapaian lapisan CVD yang stabil dan seragam pada dinding bagian dalam struktur berongga. Mulai dari kontrol keseragaman lapisan dinding bagian dalam hingga jaminan kebersihan lubang internal, setiap langkah proses secara langsung memengaruhi hasil wafer. Artikel ini menganalisis tantangan inti pelapis dinding bagian dalam pin pengangkat berongga dan jalur teknis utama.
Lihat Lebih Banyak
X
Kami menggunakan cookie untuk menawarkan Anda pengalaman penelusuran yang lebih baik, menganalisis lalu lintas situs, dan mempersonalisasi konten. Dengan menggunakan situs ini, Anda menyetujui penggunaan cookie kami. Kebijakan Privasi
MenolakMenerima